D사 (디스플레이) · 2023
기존에 장기간 운영되어 온 LabVIEW 기반 검사 소프트웨어의 구조, 실행 흐름 및 데이터 처리 로직을 역분석(Reverse Engineering)하여 성능 저하와 판정 편차를 유발하는 병목 구간을 식별하고, 소프트웨어 아키텍처 개선과 검사 알고리즘 고도화를 수행했습니다.
프로그램의 Loop 실행 주기, 장비 I/O 응답시간, VISA/DAQ 통신 대기, 데이터 복사 및 변환, UI Refresh, 파일 I/O, 불필요한 Polling 및 순차 처리 구간을 분석하여 검사 Cycle Time에 영향을 미치는 주요 원인을 도출했습니다. 이후 병렬 처리가 가능한 기능을 분리하고 Event/Queue 기반 비동기 처리, Producer–Consumer 구조, Buffer 최적화 및 장비 통신 Timeout 관리를 적용하여 전체 검사 처리 속도와 시스템 응답성을 개선했습니다.
검사 알고리즘은 기존의 단순 임계값(Threshold) 중심 판정 방식에서 벗어나 Digital Filtering, Noise 제거, Offset/Gain 보정, 유효 측정구간 추출, Statistical Processing, Peak/Mean/RMS 등의 Feature Extraction 및 다중 조건 판정 로직을 적용하도록 개선했습니다. 또한 경계값 부근에서 발생할 수 있는 판정 변동을 최소화하기 위해 Tolerance, Hysteresis, 반복 측정 및 예외조건 처리 로직을 적용하여 검사 결과의 반복성과 재현성을 향상시켰습니다.
기존 하드웨어 및 계측 환경과의 호환성을 유지하면서도 검사 Sequence 최적화, 데이터 처리 병목 제거, 알고리즘 정밀화 및 Error Handling 강화를 통해 시스템 전반의 안정성과 유지보수성을 확보했습니다.
이를 통해 노후 검사 시스템을 전면 교체하지 않고도 검사 Cycle Time 단축, 데이터 처리 성능 향상, 오검출·미검출 감소, PASS/FAIL 판정 정확도 및 일관성 향상을 달성할 수 있도록 소프트웨어를 현대화했습니다.
