A사 (반도체) · 2025
다채널 센서 및 계측 신호를 고속으로 동시 취득하고 실시간 분석·판정할 수 있도록 LabVIEW 기반 자동 검사 및 데이터 수집 시스템을 설계·개발했습니다.
다수의 Analog/Digital 센서 신호를 NI-DAQmx 기반 Multi-Channel Acquisition 구조로 통합하고, Sampling Rate, Channel Configuration, Trigger 및 Buffer를 검사 조건에 맞게 최적화하여 채널 수 증가와 연속 계측 환경에서도 안정적인 데이터 수집이 가능하도록 구현했습니다.
수집된 Raw Data에 대해 Scaling, Offset/Gain Calibration, Digital Filtering, Moving Average, 유효 구간 추출 및 Feature Extraction 등의 전처리 알고리즘을 적용하고, 채널별 측정값과 기준값을 실시간 비교하여 Upper/Lower Limit, 허용오차(Tolerance), 다중 조건 및 논리 조합에 따른 PASS/FAIL 자동 판정 로직을 구성했습니다.
또한 데이터 취득, 분석·판정, UI 표시 및 결과 저장 기능을 독립적으로 처리할 수 있도록 Producer–Consumer / Queue 기반 병렬 처리 아키텍처를 적용하여 대량의 다채널 데이터 처리 시 발생할 수 있는 UI 지연과 데이터 손실을 최소화했습니다. 검사 중에는 각 채널의 실시간 값, Trend, 검사 진행 상태 및 판정 결과를 하나의 HMI에서 통합 모니터링할 수 있도록 구성했습니다.
검사가 완료되면 측정 원시 데이터, 계산 결과, 채널별 판정값, 최종 PASS/FAIL 결과, 검사 일시 및 제품 식별정보를 자동으로 기록하여 검사 이력과 Traceability를 확보하고, 결과 데이터의 후속 분석 및 품질 관리에도 활용할 수 있도록 구현했습니다.
이를 통해 작업자의 육안 확인과 수작업 기록에 의존하던 기존 검사 공정을 자동 계측 → 실시간 신호처리 → 정량적 판정 → 결과 저장의 일관된 프로세스로 전환하여, 검사 Cycle Time 단축, 작업자별 판정 편차 제거, 검사 반복성·재현성 및 품질 데이터 신뢰성 향상을 달성했습니다.
